DAGE 4800 焊接強(qiáng)度測(cè)試儀BondTest
產(chǎn)品型號(hào):4800BondTest
簡(jiǎn)介介紹:Nordson DAGE 4800 采用先進(jìn)的晶圓測(cè)試技術(shù),可用于測(cè)試200毫米至450毫米的晶圓。將成熟的技術(shù)與新的Paragon自動(dòng)化軟件相結(jié)合,可提供優(yōu)良的準(zhǔn)確性、可重復(fù)性和結(jié)果穩(wěn)定性
詳情介紹
DAGE 4800 焊接強(qiáng)度測(cè)試儀BondTest品質(zhì)
良好的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性確保您對(duì)測(cè)試結(jié)果的質(zhì)量充滿信心。
退后精度
剪切高度的控制(復(fù)位)對(duì)剪切應(yīng)用中一致性的測(cè)試結(jié)果至關(guān)重要。Nordson DAGE獨(dú)有的磚利復(fù)位系統(tǒng)有助于設(shè)置和控制剪切高度,從而使復(fù)位精度達(dá)到+/- 0.25微米。
成像
一系列功能強(qiáng)大的攝像頭和光學(xué)系統(tǒng)優(yōu)化加載工具對(duì)準(zhǔn)、自動(dòng)編程和測(cè)試分析。
垃圾清理站
快速高效地從推刀及夾爪中自動(dòng)殘?jiān)?/span>
獨(dú)特的雙顯微鏡裝置
4800 焊接強(qiáng)度測(cè)試儀的先進(jìn)光學(xué)器件與顯微鏡的雙減振裝置和可調(diào)式視窗相結(jié)合,可提供優(yōu)良的圖像穩(wěn)定性
小尺寸精準(zhǔn)定位
獨(dú)特的矢量微調(diào)控制,提供具有可編程的微動(dòng)按鈕的小鍵盤操作,步進(jìn)移動(dòng),以確保位置精度
自動(dòng)化測(cè)試
完全自動(dòng)化的測(cè)試程序可以配置使用直觀的晶圓映射模塊在選定的或隨機(jī)的模具上運(yùn)行一組測(cè)試。協(xié)助用戶從加載到結(jié)果,包括:攝像頭對(duì)位、失效模式判定和圖形數(shù)據(jù)展示
先進(jìn)的全自動(dòng)晶圓測(cè)試技術(shù)
? 用于高倍光學(xué)顯微鏡的獨(dú)特雙臂裝置
? 可互換的測(cè)試模組包括獲得磚利的多功能測(cè)試模組(MFC)和高精度拔球測(cè)試模組
? 自動(dòng)邊緣升降智能晶圓載盤和高精度XY工作平臺(tái),具有亞微米級(jí)分辨率和可重復(fù)性
? 創(chuàng)建晶圓圖和導(dǎo)航圖
? 集成圖像采集和側(cè)面對(duì)位攝像頭
? 集成的殘?jiān)ぷ髡驹跍y(cè)試期間自動(dòng)清理推刀及夾爪上的殘?jiān)?/span>
DAGE 4800 焊接強(qiáng)度測(cè)試儀BondTest主要特性
? 晶圓從暗盒到焊接強(qiáng)度測(cè)試儀的半自動(dòng)化處理
? 半自動(dòng)化凸塊剪切力測(cè)試
? 測(cè)試的晶圓返回暗盒的半自動(dòng)化轉(zhuǎn)移
? 晶圓定位和連鎖
? 自動(dòng)進(jìn)行暗盒掃描以檢查晶圓位置以及是否存在任何十字形開槽的晶圓
? 自動(dòng)化的凸塊剪切力程序(不需要攝像系統(tǒng))
? 由 240 毫米操縱桿控制的XY 工作平臺(tái)
DAGE 4800 焊接強(qiáng)度測(cè)試儀BondTest規(guī)格描述:
產(chǎn)品尺寸: 1075mm x 980mm x 855mm (ex PC)
重量: 170Kg
電源: 90 - 264V AC, 47 - 63 Hz,單相,通用
供氣: 4巴,外徑6mm /內(nèi)徑4mm的塑料管
供真空: 67kPa,外徑6mm /內(nèi)徑4mm的塑料管材
接口: USB, Gigabit Ethernet/千兆網(wǎng)口
專注為電子制造商提供如下SMT設(shè)備:
錫膏印刷機(jī)、錫膏測(cè)厚儀SPI、SMT貼片機(jī)、HELLER回流焊、光學(xué)檢測(cè)AOI、X-Ray X光射線檢測(cè)機(jī)、等整條SMT生產(chǎn)線設(shè)備,以及服務(wù)和解決方案。
專注為封測(cè)廠提供如下半導(dǎo)體封測(cè)設(shè)備:
DieBond固晶機(jī)、DieAttach晶圓貼片機(jī)粘片機(jī)、WireBond焊線機(jī)引線鍵合機(jī)、Molding塑封機(jī)、WaferGrinding研磨機(jī)、WaferSaw切割機(jī)、X-RayDageX光檢測(cè)機(jī)、BondTest推拉力測(cè)試機(jī)、Plasma等離子清洗機(jī)、C-SAM超聲波掃描、原子力顯微鏡、先進(jìn)封裝電鍍等設(shè)備
提供從IC Design→Fabless→封裝測(cè)試→SMT表面組裝的整套集成電路電子制造的行業(yè)資源,設(shè)備及解決方案