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熱場式場發(fā)射掃描電鏡FE-SEM

操作高效便捷: 界面更加直觀，僅需要“點擊”即可得到圖像。 超前的電腦輔助技術(shù)將電鏡的操作與控制提升到一個新水平。

三維光學(xué)輪廓儀

臺式全自動三維形貌計量設(shè)備

離子研磨儀

日立離子研磨儀標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型IM4000Ⅱ能夠進(jìn)行截面研磨和平面研磨。還可通過低溫控制及真空轉(zhuǎn)移等各種選配功能，針對不同樣品進(jìn)行截面研磨

Thermo Scientific共聚焦顯微拉曼成像光譜儀

致力于科學(xué)開拓和產(chǎn)品 DXR3xi顯微拉曼成像光譜儀無需耗時學(xué)習(xí)操作的設(shè)計理念，快速成像的檢測技術(shù)和分析 功能將有助于研究人員積蓄更多的...

ICP-RIE Plasma Etcher感應(yīng)耦合等離子刻蝕機(jī)

SI 500為研發(fā)和生產(chǎn)提供先進(jìn)的電感耦合等離子體(ICP)工藝設(shè)備。它基于ICP等離子體源PTSA，動態(tài)溫度控制的襯底電極，全自動控制的真空系統(tǒng)，...

透射SEM和掃描透射電子顯微鏡TEM

透射SEM和掃描透射電子顯微鏡TEMTalos? L120C是一種具有全新設(shè)計和操作概念的新型 120kV透射和掃描透射電子顯微鏡（S/TEM）

電感耦合等離子體質(zhì)譜儀

ICP-MS進(jìn)行痕量元素分析

聚焦離子束FIB

Scios 2 DualBeam 系統(tǒng)可為各種樣品提供業(yè)界*出色的樣品制備、亞表層和三維表征性能。

差示掃描量熱儀

The DSC 300 Caliris? 是可靠的DSC儀器系列，表征材料熱 性能游刃有余

動態(tài)熱機(jī)械分析儀

動態(tài)熱機(jī)械分析（DMA/DMTA）是確定工程材料機(jī)械性能，特別是聚合物的黏彈行為 的一個不可缺少的工具。 通過在動態(tài)振蕩條件下對材料施加力...

原子力顯微鏡

Park NX20 缺陷分析的*佳選擇 作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器，其主要目的是對樣品進(jìn)行缺陷檢測。 而儀器所提供的數(shù)據(jù)不...

原子力顯微鏡

Park NX10為您帶來*高納米級分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有。無論是從樣品設(shè)定還是到全掃描成像、測量與分析，Park NX10都可以在保證...

掃描電子顯微鏡

兼具臺式電鏡的簡單快捷，圖像分辨率高達(dá)4 nm。 同時具有高品質(zhì)圖像性能和更加完善的自動化功能， 可滿足更廣大用戶的需求。